热阻测试-材料特性测试-测试服务-常州光电技术研究所

热阻测试

发布时间：2022-11-09 浏览：6629次

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T3Ster半导体热阻测试仪

半导体功率件的热阻测试十分必要，只有结温得到保证，这些器件才能稳定工作，使用寿命才有保证。本实验室T3Ster测试系统可以满足结温与热阻结构的测试。

标准支持

1.具有JESD51-1定义的静态测试法（Static Mode）与动态测试法（Dynamic Mode），能够实时采集器件瞬态温度响应曲线

2.测试方法符合IEC 60747、MIL-STD-883H method 1012.1和MIL-750E 3100系列标准的要求。

主要技术指标

1.测试通道：8通道；

2.实时测量的时间分辨率：1μs；

3.温度控制范围：10ºC~90ºC；

4.温度精度：0.2ºC；

5.允许器件功率峰值：100W(50V，2A，R-Switch模式)。

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